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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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岛津微焦点X射线CT装置inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus
能够用外观图确定CT扫描位置! 特点 ·从微小零部件到大型零件,可扫描样品范围广泛。管球为开放管,日常维护以更换灯丝为主,经济实惠。 ·通过外观图自动
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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XSeeker 8000 X射线台式CT系统
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梅特勒托利多 电子天平JE503C
电子天平JE503C日常称重要领.准确称量珠宝所需的所有基本功能。505 ct/101 g量程,0.001 ct/0.1 mg可读性,明亮清晰的背光液晶显示屏,内部校正,密码保护,过载保护,金属底座
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梅特勒托利多 电子天平 JET503C/00
电子天平 JET503C/00智能功能.准确可靠,适用于可信的珠宝称重。505 ct/101 g量程,0.001 ct/0.1 g可读性,4.5英寸彩色触摸屏,FACT全自动内部校正,3个接口,8种
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半导体器件参数测试仪系统
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XDimensus 300测量用X射线CT系统
XDimensus 300“新维度” 测量XDimensus 300是测量用X射线CT系统,可用于对样件内部结构尺寸的测量。 本机除采用性能卓越的高分辨率大视野检出器、(与本司以往产品相比) X射线
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梅特勒托利多CT33
CT33工作效率最大化null软件与控制卓越性null物料号: 56103310规格 - CT33Track & Trace解决方案电子监管 Mark & Verify产品类型纸箱 定向系统设计自动
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卓立汉光SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器
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